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ZetaCAD HT高温型表面和中空纤维zeta电位测定仪
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ZetaCAD® 表面和中空纤维zeta电位测定仪
ZetaCAD:是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪。该技术适用于50µm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
,如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压(电势),SurPASS 固体电运动分析仪给出了ZETA 电位这样一个重要的信息
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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流动电位法zeta电位分析仪
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GrandStand 中空纤维膜中试/生产过滤系统
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晶圆表面厚度翘曲度测量系统
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国产半导体晶圆表面形貌测量系统
WD4000半导体晶圆表面形貌测量系统集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。
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半导体晶圆PL光谱测试系统
作用,使得晶圆片大范围移动时,用于激发荧光的激光光斑在晶圆表面始终保持最佳的聚焦状态,从而极大的提供荧光收集的效率和分辨率。物镜5xNA=0.2820xNA=0.40100xNA=0.8离焦量z分辨率
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